Page 59 - Revista 130

industriaInternet
GLOBAL INET 2012
future Internet
Prof. ing. Titu I. Băjenescu (elveţia)
de calitate, mai valoroase şi mai ieftine), ni- distincţii, împărţite în trei domenii:
meni nu-l poate prevedea, căci dezvoltarea (a) Cercul pionierilor Internetului:
tehnologică mondială este explozivă şi ex- Paul Baran, Vint Cerf, Danny Cohen, Steve
trem de rapidă.
De la peste 2,4 miliarde utilizatori astăzi, Charles Herzfeld, Peter Kristen, Leonard
cu progresele deja realizate pe continentul Kleinrock, John Klensin, Jon Postel, Louis
african – în special în Nigeria şi Kenia – Pouzin şi Lawrence Roberts.
dar şi cu cele în perspectivă din China şi (b) Inovatorii: Mitchell Baker, Tim Berners-
India, se speră să se depăşească cât de
curând cifra de 3,5 miliarde.
Collaborative governance, conectivitate ma- mark, Raymond Tomlinson, Linus Torvalds şi
sivă şi explozia Internetului sunt principale- Philipp Zimmermann.
le tendinţe de viitor. Dar viitorul Internetu- (c) Global connectors (contribuţii individu-
lui va fi hotărât, în esenţă, de utilizatori; de ale la creşterea globală şi utilizarea Internetu-
aceea, acum este momentul să acţionăm, lui): Randy Bush, Kilnan Chon, Al Gore,
noi utilizatorii, pentru a decide care va fi Nancy Hafkin, Geoff Huston, Brewster
viitorul Internetului în următorii 20 ani. Kahle, Daniel Karenberg, Toru Takahashi şi
În cadrul evenimentului au fost acordate Tan T. Wee.
„component Reliability for electronic systems”
Principalul motiv care face ca multe produse finite
(computere, televizoare, etc.) să cadă prematur în pană
este defectarea componentelor electronice folosite la
realizarea acestor produse. Pentru a asigura produselor o
fiabilitate de lungă durată şi a fabrica produse şi sisteme
care să se defecteze cât mai târziu cu putinţă este esenţial
să înţelegem căile prin care se pot minimiza degradările
tuturor componentelor electronice. Este o carte practică,
scrisă pe baza experienţei trăite a autorilor Titu Marius
I. Băjenescu și Marius I. Bâzu; ea vă ghidează specific în
proiectarea unor componente mai fiabile care să permită realizarea unor sisteme
complexe de înaltă fiabilitate. Aflaţi cum să optimizaţi prototipul virtual al unei
componente electronice şi cum să monitorizaţi fiabilitatea viitorului produs de-a
lungul întregului proces de fabricaţie adăugând procedeele de selecţie şi de burn-
in cele mai adaptate pentru aplicaţia dvs. Mai mult, cartea vă ajută să fiţi siguri
că toate componentele au fost corect proiectate, că marginile de siguranţă sunt
corespunzătoare, că sunt prevenite modurile de defectare datorite uzurii în tot
timpul duratei de viaţă aşteptate a produsului şi că interfeţele sistemului nu pot
cădea în pană. Lucrarea are 705 de pagini și a apărut la Editura Artech House,
Boston and London.
“Failure Analysis–A Practical Guide
for Manufacturers of electronic components & systems”
Cartea are trei scopuri: (i) să prezinte bazele analizei defectărilor (AD),
considerată drept acţiunea-cheie pentru rezolvarea problemelor de fiabilitate; (ii)
să promoveze ideea de fiabilitate şi realizarea unui nivel dat de fiabilitate – o
caracteristică-cheie a oricărui produs industrial; (iii) să arate managerilor din in- panii importante în domeniu. Lucrarea are 434 de
dustrie motivele pentru care aspectele fiabile trebuie luate în considerare încă din
faza de proiectare a oricărui produs. Cea mai mare parte a cărţii este consacrată
Crocker, Donald Davies, Elizabeth Feinler,
Lee, Robert Cailliau, Van Jacobson, Lawrence
Landweber, Paul Mockapetris, Craig New-
57
examinării modurilor şi mecanismelor de defectare
ale principalelor tehnologii folosite la fabricarea
componentelor electronice, folosind fizica fiabili-
tăţii şi AD materialelor. 12 studii de caz complexe
şi diferite metode de AD folosite în practica de zi
cu zi completează bogatul material al cărţii.
Autorii, Marius Bâzu și Titu Băjenescu, pun la
dispoziţie o carte utilă managerilor, inginerilor și
tehnicienilor implicaţi în proiectarea sistemelor
electronice complexe, cât şi utilizatorilor acestor
sisteme. Lucrarea are 317 pagini și a apărut la Editura John Wiley, Chichester &
New York.
„Mecanisme de defectare ale componentelor electronice”
Lucrarea are meritul de a reuni, într-un singur volum, o cantitate impresionantă
de informaţii privind fiabilitatea tuturor componentelor electronice: este analizat
procesul de defectare a acestora şi sunt evidenţiate modurile şi mecanismele de
defectare aferente fiecărei categorii de componente. Volumul este întregit prin in-
cluderea unui glosar privind termenii de microelectronică şi fiabilitate, a unui
dicționar de fiabilitate bilingv (român-englez şi englez-român), a unei liste de
acronime, precum şi a unei ample bibliografii, toate acestea fiind menite să faci-
liteze aprofundarea ulterioară de către cei interesaţi a
unora dintre problemele expuse în lucrare. Aceeași autori,
Titu-Marius Băjenescu și Marius Bâzu, şi-au pus am-
prenta şi pe această monografie, ce îmbină rigoarea teo-
retică impusă de analizele defectărilor componentelor
electronice şi multitudinea exemplelor şi studiilor de caz
izvorâte din experienţa unor institute de cercetare şi com-
pagini și a apărut la Editura Matrix Rom.
aprilie-mai 2012, COmuNIC@ȚII mobile